三上悠亜国产精品一区,国产白浆精品亚洲

當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 新品推薦 > 漏電起痕試驗儀

產(chǎn)品分類

Product Category

新品推薦

多通道電流矩陣模塊鐵電分析儀高壓功率放大器塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng) 半導體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針臺漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

查看全部

相關(guān)文章

華測-高壓漏電起痕測試儀器

更新時間：2025-06-06

型號：

瀏覽量：4394

華測-高壓漏電起痕測試儀器配合電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓漏電起痕試驗是在工頻電壓下,通過液體污染和傾斜試樣評定,在環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐級升壓漏電起痕電壓法。
了解詳情
HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI

更新時間：2025-06-06

型號：HCDH-3

瀏覽量：2377

華測高壓漏電起痕測試儀，是指在固體絕緣材料表面，在電場和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導電通路的過程。這個過程被稱為漏電起痕，而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱為耐漏電起痕。漏電起痕試驗是評估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過模擬在潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的環(huán)境，測定材料的相比漏電起痕指數(shù)（CTI）和耐電痕化指數(shù)（PTI）。華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
了解詳情
HCLD-3漏電起痕試驗儀

更新時間：2025-07-29

型號：HCLD-3

瀏覽量：2410

華測儀器-低壓漏電起痕試驗儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標準要求設計制造的試驗儀器。適用于固體絕緣材料在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測定，具有簡便、準確、可靠、實用等特點。
了解詳情
HCDH-300低壓漏電起痕測試儀器

更新時間：2025-07-29

型號：HCDH-300

瀏覽量：2416

低壓漏電起痕測試儀器（電痕化指數(shù)試驗）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的導電液體（0.1%NH 4 CL），用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電，測定其相比電痕化指數(shù) （CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
了解詳情
HCDH-200華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀

更新時間：2024-06-04

型號：HCDH-200

瀏覽量：1899

華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀，主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
了解詳情
HCDH-200北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器

更新時間：2024-06-08

型號：HCDH-200

瀏覽量：2564

北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
了解詳情
HCDH-200耐電痕化指數(shù)測試儀器

更新時間：2023-08-29

型號：HCDH-200

瀏覽量：2235

耐電痕化指數(shù)測試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險。電氣產(chǎn)品在使用過程中，由于環(huán)境的污染導致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電，因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
了解詳情
HCDH-200北京華測*耐電痕化指數(shù)測試儀器

更新時間：2023-08-29

型號：HCDH-200

瀏覽量：2034

北京華測*耐電痕化指數(shù)儀（電痕化指數(shù)試驗）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的導電液體（0.1%NH 4 CL），用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電，測定其相比電痕化指數(shù) （CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。北京華測*耐電痕化指數(shù)測試儀器
了解詳情

共 13 條記錄，當前 1 / 2 頁首頁上一頁下一頁末頁跳轉(zhuǎn)到第頁

久久美利坚合众国av无码,亚洲综合一区二区三区激情在线,粗一大视频免费的,国产97在线,国产一级做A,久久精品国产色蜜蜜麻豆