北京華測高溫四探針電阻率

●采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統(tǒng)，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線． 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用于碳系導電材料、 金屬系導電材料、 金屬氧化物系導電材料、結(jié) 構(gòu)型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量。 過測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲 線。